Начало > Новини > Съдържание

NANO метрологията ще участва в DMC2017 в Шанхай

Source:


Нано метрологията ви приветства да посетите щанда ни. Ще ви предоставим най-добрия опит за измерване и опресняване на изгледа ви за CMM . Повече подробности за изложбата:


Име на изложението: DMC2017

Дата на изложението: 6/13 / 2017--6 / 16/2017

Изложбен щанд: E2-B170

Адрес на изложбата: NO.2345, Longyang Road, Pudong New Area, Шанхай

Нано изложение оформление

1.png


Карта на изложбената зала


new.jpg






Запитване
Your comments are welcome!
For more information about our brand and products, please feel free to contact us!
Please enter your email address:
Свържете се с нас
Address: NO.55, Gongye No.2 Road, Xi'an Национална гражданска аерокосмическа база, Xi'an Сити, провинция Шанси, Китай
Tel: +862981538937
Fax: +862989233633
E-mail: overseas@cmm-nano.com
Copyright © Нано (Xi'an) Metrology Co., Ltd. Всички права запазени.